TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統簡介：
TASLimage是基(ji)于核徑跡分(fen)析(xi)技術發展(zhan)的高性能全自動(dong)圖(tu)像測(ce)量及分(fen)析(xi)系統，用于測(ce)量及分(fen)析(xi)各類塑料徑跡探測(ce)器，例如 TASTRAK（TASL 公司生產）、CR39、PN3。
TASLimage系(xi)統(tong)的顯微鏡(jing)模塊(kuai)采用了(le)(le)高質量 Nikon 光學器件(jian)和超快 3D 機動控(kong)制系(xi)統(tong)，保證(zheng)了(le)(le)系(xi)統(tong)的高測(ce)量效率、高精度及低本底等優(you)異(yi)性能。
TASLimage適用于中子(zi)測量、氡濃(nong)度(du)監測、聚變(bian)研究、α 粒子(zi)放(fang)(fang)射自顯影(ying)、鈾(you)礦勘探(tan)、宇(yu)宙(zhou)射線以(yi)及(ji)放(fang)(fang)射領域教學。

TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統特點：
全自(zi)動聚焦，全自(zi)動掃描點碼和蝕刻徑跡；
全自動測(ce)(ce)讀批(pi)量探測(ce)(ce)器；
快速測讀(du)(du)，測讀(du)(du)時間為(wei) 30~60 秒（與參數設置相關）；
自(zi)動修(xiu)正探測器響(xiang)應衰退，保(bao)證探測器可(ke)用于 12 個月的長期監(jian)測；
高(gao)度精(jing)密的圖像分(fen)析技(ji)術(shu)，可區分(fen)徑跡與本底特(te)征；
全(quan)自動本底評估（對每個探(tan)測器）；
掃描(miao)數(shu)據自動轉換為中子(zi)劑量 / 氡(dong)濃度(du)；
數據可導(dao)出(chu) excel 文件。

TASLimage軟件界面


TASTRAK核徑跡探測器

TASLimage徑跡蝕刻測量系統技術參數：