Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統簡介：
Politrack® 是(shi)用于固體核(he)徑跡蝕(shi)刻探測器的(de)全(quan)自動掃(sao)描測量系統。
Politrack可以(yi)讀取 CR-39 和(he)(he) LR115 探(tan)測器。主(zhu)要應用于各(ge)類研究，氡和(he)(he)中子的劑量測定(ding)。
Politrack提供了多種軟件包，適(shi)用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測(ce)量。
掃描面(mian)積可達 205x205 mm2，用戶可定義探測器尺寸和讀取面(mian)積。
通過(guo) OCR 讀取探測(ce)器ID。
在(zai)掃描開始(shi)時執行(xing)的自動(dong)對焦(jiao)例(li)程(cheng)可確(que)保在(zai)整個讀取過程(cheng)中使圖像聚焦(jiao)探測器表面。
形態分(fen)析會將對來自不同粒子(zi)或(huo)具有不同能量(liang)的(de)徑(jing)跡蝕刻(ke)進行分(fen)類，并去(qu)除本底(di)噪聲。
形(xing)態(tai)參數(shu)中具(ju)有濾鏡(jing)功(gong)能，用戶可以(yi)看(kan)到應用濾鏡(jing)后(hou)會發(fa)生或出現(xian)什么狀態(tai)，并(bing)且以(yi)此進行(xing)修(xiu)改參數(shu)范圍或度。軟件可對與徑跡密度成正比(bi)的徑跡重疊進行(xing)校(xiao)正。
輸出數據(ju)文件包(bao)含所有探測(ce)器相關(guan)數據(ju)，用(yong)戶可以自定義輸出模板和(he)格式（與(yu)Excel*兼(jian)容）。

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統特點：
任(ren)何尺寸(cun)的CR-39和LR115檢測器均可讀數
精密(mi)的徑跡蝕(shi)刻(ke)形態分析
CR-39檢測器(qi)老化校正
LR115殘余厚度校(xiao)正
重疊校正
清(qing)晰明(ming)確的算法，不存在(zai)黑匣子(zi)
操作員可(ke)設置(zhi)和修改所有參數

Politrack固體徑跡蝕刻測量系統應用領域：
各類研究工作
劑(ji)量測定(ding)服務
氡(dong)測量
快中子
熱中(zhong)子
LET光(guang)譜(pu)

Politrack固體徑跡蝕刻測量系統操作方法：
用戶可以定義探(tan)測器的(de)類型和尺寸，讀取區(qu)域以及所有(you)掃描參(can)數。形(xing)態(tai)分析可以區(qu)分來自(zi)不同粒子和具有(you)不同能量的(de)徑(jing)跡，去(qu)除(chu)本底干擾。

所有算(suan)法清晰明確，用(yong)戶可(ke)以通(tong)過(guo)功(gong)能(neng)強大的圖形工具輕松(song)修改和/或應用(yong)形態分(fen)析濾鏡，并實(shi)時可(ke)視化(hua)結果。若需更改參數，可(ke)直(zhi)接使(shi)用(yong)二次計算(suan)工具，而無需重新讀取探測(ce)器。輸出文件包含所有探測(ce)器相關(guan)掃描數據，用(yong)戶可(ke)自定(ding)義(yi)輸出模板和格式。

Politrack固體徑跡蝕刻測量系統技術參數：